芯片(WDI)
发布时间:2016-07-27

 应用信息:芯片

 客户要求和问题:半导体芯片外观不良检查

 解决方案及方案内容:加拿大WDI

 测试设备: 加拿大WDI自动对焦显微镜+相机

 1、客户现场图片:

制样样品,制样完成后及时拍照

2.测试结果:

WDI自动对焦显微镜拍摄效果:暗场,10X物镜观察

 

 

返回