薄膜(IE)
发布时间:2016-08-11

应用信息:薄膜材料

 客户要求和问题:薄膜上的刻线深度测量和侧坡测量

 解决方案及方案内容:奥林巴斯激光共聚焦显微镜

 测试设备: 奥林巴斯激光共聚焦显微镜

 1、客户现场图片:

2.测试结果:

 

 

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