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扫描电子显微镜 SU3800/SU3900
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集优异性能、操作简便性、多样化功能于一身


日立高新推出的扫描电镜SU3800/SU3900兼具操作性和扩展性，结合众多的自动化功能，可高效发挥其高性能。

SU3900标配多功能超大样品仓，可应对大型样品的观察。




SU3900标配多功能超大样品仓，可应对大型样品的观察

样品台可搭载超大/超重样品

· 通过更换样品提示，可防止由于与样品的接触而损坏设备或样品
· 选配样品交换仓，可在主样品仓保持真空的状态下快速更换样品，大大提高了工作效率
· 具备样品台移动限制解除功能,提高了自由度*

· 红外CCD探测器，提高了样品台移动的**性


支持全视野移动。SEM MAP支持超大样品的全视野观察
· 与GUI联合，可配备样品仓室导航相机
· 覆盖整个可观察区域
· 支持360度旋转


                   

随着各种自动化功能的强化，操作性能得到了进一步优化


一个鼠标就能够轻松操作的简约GUI
各种自动化功能
· 自动调整算法经改良后，等待时间减少至以往的1/3以下(※S-3700N比例)
· 提高了自动聚焦精度
· 搭载Intelligent Filament Technology（IFT）
Multi Zigzag，可实现多区域的大视野观察
Report Creator，可利用获得的数据批量生成数据报告


                                          

可提供满足测试需求的应用解决方案


可满足多种观察需求的探测器
· 搭载高灵敏度UVD*，支持CL观察
· 高灵敏度半导体式背散射电子探测器，切换成分/凹凸等多种图像
配备了多功能超大样品仓，可以搭载多种配件
· SEM/EDS一体化功能*
三维显示测量软件 Hitachi Map 3D*
支持图像测量软件Image pro
*配件